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    德國超聲波掃描顯微鏡

    簡要描述:名稱:德國超聲波掃描顯微鏡
    型號:V-400E
    產地:德國
    應用:晶圓面處分層缺陷;錫球、晶圓、或填膠中的開裂;晶圓的傾斜;各種可能之孔洞(晶圓接合面、錫球、填膠…等)

    • 產品型號:V 400E
    • 廠商性質:生產廠家
    • 更新時間:2020-07-06
    • 訪  問  量:3935

    詳細介紹

    名稱:德國超聲波掃描顯微鏡

    產品介紹:

    名稱:德國超聲波掃描顯微鏡

    型號:V-400E

    產地:德國

    應用:晶圓面處分層缺陷;錫球、晶圓、或填膠中的開裂;晶圓的傾斜;各種可能之孔洞(晶圓接合面、錫球、填膠等)

     

    產品應用:

    聲掃顯微鏡應用領域:

    • 半導體電子行業:半導體晶圓片、封裝器件、大功率器件IGBT、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器件、MEMS等;
    • 材料行業:復合材料、鍍膜、電鍍、注塑、合金、超導材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面等;
    • 生物醫學:活體細胞動態研究、骨骼、血管的研究等

    在失效分析中的應用:

    • 晶圓面處分層缺陷
    • 錫球、晶圓、或填膠中的開裂
    • 晶圓的傾斜
    • 各種可能之孔洞(晶圓接合面、錫球、填膠…等)

    聲掃顯微鏡的在失效分析中的優勢:

    • 非破壞性、無損檢測材料或IC芯片內部結構
    • 可分層掃描、多層掃描
    • 實施、直觀的圖像及分析
    • 缺陷的測量及缺陷面積和數量統計
    • 可顯示材料內部的三維圖像
    • 對人體是沒有傷害的
    • 可檢測各種缺陷(裂紋、分層、夾雜物、附著物、空洞、孔洞等)

     

    主要參數:

    • -該型號顯微鏡系統是實驗室、研發和工業生產線主流機型。
    • - 掃描速度可達:2000mm/s
    • - 與其它品牌機型相比掃描效率高30%
    • - 大掃描范圍:400mm×400mm
    • - 小掃描范圍:200μm×200μm
    • - 射頻大帶寬:500MHz
    • - 新型FCT防誤判探頭

     

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